技術文章
Technical articles鍍層測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用頻率變化的厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。鍍層測厚儀誤差的解決辦法：測厚儀在實際應用中，尤其是在役設備的監測中，如果出現示值失真，偏離實際厚度的現象，結果造成管線（設備）隱患存在，就是依據錯誤的數據更換了管件，造成大量材料浪費。根據幾年來測厚...
X熒光光譜儀屬于無損害的測量儀器設備，它的優勢就是在測量樣品時不需要提前進行特殊的處理即可測量的儀器，能夠迅速獲得測量的結果。但對于樣品形狀、大小能夠滿足測量的需求，以及是否存在干擾元素都將對X熒光光譜儀測量結果的精準度造成一定的影響。樣品大小應依據X熒光光譜儀光斑的大小進行區分，光斑可以*照在樣品上并且其的厚度也能達到相應的要求，能直接放置在測試室當中進行測量。光斑無法直接照在樣品上，也就是說樣品小于光斑，應該放在同一樣品杯中，達到相應量，再進行壓緊，切不可留有間隙，最后實...
鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量，一般常采用無損檢測方法。但是，由于測量對象、測量方法、測量環境、儀器設備等因素引進了諸多測量誤差，為確保測量結果的準確可靠，有必要對其進行不確定度分析。鍍層厚度的測試方法按照測試方法的基本原理類型可以分為化學法、電化學法和物理法三大類。其中，⑴化學法包括化學溶解分析法、化學溶解稱重法和化學溶解液流計時法；⑵電化學法包括電化學陽極溶解法(庫侖法)；⑶物理法包括直接測量法和儀器測量法(磁性法、非磁性法、X射線法和電鏡法等)。鍍層厚度...
X熒光光譜儀是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應用用途，X熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術可以對一些低原子序數元素進行檢測分析，甚至是在空氣氣氛中也能進行檢測，例如用于測量化學鍍鎳涂層中磷元素（原子序數Z=15）的含量。但是，大多數的低原子序數元素的檢測分析依然還需要隔離空氣氣氛。近年來比較流行的是一種...
對樣品進行測試時，樣品的拆分一定要做好相關的準備工作，然后按照要求進行拆分。以下內容詳細介紹ROHS檢測儀器測試樣品時的拆分準備與要求：一、環境1、拆分區域與實驗室拆分區域應相對，并足夠用于拆分操作。保持拆分環境潔凈，室內溫度在20-25度左右，濕度低于80%。對溫濕度應實施監控，并應避免陽光直射。本要求同時適合于ROHS測試實驗室的環境要求。2、拆分工作臺拆分工作臺應平整呢個、潔凈、耐磨損、耐腐蝕、有足夠承重力，臺面面積應滿足拆分工作和樣品擺放的要求。3、安全防護應避免拆分...
X熒光光譜儀的分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。X射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態等。樣品制備過程由于經過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：（1）樣品的均勻性。（2）樣品的表面效應。（...
覆層的厚度測量已成為金屬加工工業進行成品質量檢測必要的最重要的工序，鍍層測厚儀的選擇隨著材料物理性質研究方面的逐漸進步而更加至關重要，下面總結測厚儀購買需要注意的八大事項：1.首先需要了解測試的需求，如測試基體材料、涂鍍層材料、測試范圍及精度需求，若濕膜或高溫條件下測量時需特別說明。2.其次對于塑料膜，紙巾，錫紙厚度的測量，測量儀型號的選擇不受限制。3.對于有曲率的工件需提供曲率半徑值，對比鍍層測厚儀的曲率是否滿足現場測量需求，如超標需要配置特配探頭。4.從正規渠道購買鍍層測...
鍍層是一種用金屬在表面沉積的工藝，已有數百年的歷史，被廣泛應用于輕工業、電子電氣、機械等行業，現已成為了社會發展中不可少的基礎工藝。隨著工業經濟對鍍層技術的需求日期增加，對電鍍層的質量也有了更嚴格的要求。這也要求對電鍍制品的檢查方法和評判技術，需要在時間、方法、精準度等方面更加高效。鍍層質量檢查的內容因零件和鍍層而異，但其中鍍層的厚度是鍍件品質的最重要保證因素。相比于傳統的陽極溶解庫侖法、金相法、溶解稱重法、液流法、點滴法等鍍層測量方法，XRF技術因為其無損、快速、可靠等優點...
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